日本nihonika分光放射光量子計(jì) S-2440 modelⅡ

分光放射光量子計(jì) S-2440 modelⅡ

分光放射光量子計(jì)　S-2440 modelⅡ

學(xué)術(shù)分野で、光を測定する際の標(biāo)準(zhǔn)測定器として！
高精度?高精細(xì)な測定を可能に！
【特許取得品】

特長

• 【新設(shè)計(jì)専用回路基板】測定誤差となる溫度依存性、ノイズレベルを大幅に低減。※1　その全てをコントロールす る回路基板を新規(guī)開発。「出たノイズを抑える」ではなく、「設(shè)計(jì)レベルからノイズを出さない」という新たな発想 に基づき設(shè)計(jì)された低減技術(shù)です。※1.　従來比
• 【ソーラシミュレータ測定に適化した設(shè)計(jì)】太陽光やソーラシミュレータからの放射波長に合わせて感度特性を適化。紫外?近赤外での SN を向上しました。
• 【パルス光との同期測定】當(dāng)社従來機(jī)種でのパルス光測定の場合、パルス光入射後のデータしか取得できませんでし たが、本裝置では新方式でのパルス光測定モード （イベントトリガモード） を採用しました。 イベントトリガモードは、新設(shè)計(jì)専用基板回路とソフトウエアの組み合わせにより、パルス光入射前からデータを スキャンしており、任意のタイミングでデータを取り出すことができます。 つまり、パルス光発光後のピンポイン トでの 1 點(diǎn)測定ではなく、発光前後のパルス波形の発光推移を広範(fàn)囲に取得することができます。 測定開始のタイ ミング信號は、反射型拡散板に取り付けられたホトダイオードが発光信號を検知します。また、トリガの入力検知 レベルは、0 sun ～ 1 sun 相當(dāng)の強(qiáng)度範(fàn)囲で任意に設(shè)定することが可能です。
• 放射波長に合わせて感度特性を適化、広い測定波長範(fàn)囲 300 ～ 1,100nm、シリコン系、 色素増感、有機(jī)薄膜　 太陽電池の波長範(fàn)囲をカバー
• 橫軸は波長（nm）、縦軸は光量子束密度 (μmolm-2s-1) を表示、光量子束密度は、相対値（％）でも表示可能
• 任意の波長領(lǐng)域をし、その総和を光量子量で個別に表示可能、これにより、光合成の効率や光合成活性等を左 右する光源の測定?評価?予測が可能
• 表示は、カラーバーだけでなく、スペクトル自體にカラーグラデーションの表示が可能、 お好みにより、RGB 値を 変更することでカラー変更も行えます
• スペクトルは、グラフのみをエクセル、ワードなどの別ソフトに貼り付けが可能
• 日本電気計(jì)器検定所にて制定された分光放射照度標(biāo)準(zhǔn)電球にて校正を行っており、JISC8912 および JISC8933 に よる太陽電池計(jì)測用ソーラーシュミレータのスペクトル近似度の評価も可能。非常に高精度高精細(xì)な測定器です。
• 高精度トレサビリティ體系に基づくバリデーション対応可能品

仕様