多檢測型納米粒度測量儀系統
多檢測型納米粒度測量儀系統

實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續測量的多個樣品

可以改變每個樣品的條件進行測量

● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品

● 標準測量時間1分的高度測量

自動調整從濃厚系到稀薄系樣品的最佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量

● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)

沒有任何復雜的操作，簡單易懂的軟件

● 因為每個樣品槽都是獨立的，沒有接觸污染的風險。

● 搭載溫度梯度功能

測量范圍（理論值）

● 粒徑0.6nm～10μm

● 濃度范圍 0.00001～40％

● 溫度范圍0～90℃^*

實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續測量的多個樣品

可以改變每個樣品的條件進行測量

● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品

● 標準測量時間1分的高度測量

自動調整從濃厚系到稀薄系樣品的最佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量

● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)

沒有任何復雜的操作，簡單易懂的軟件

● 因為每個樣品槽都是獨立的，沒有接觸污染的風險。

● 搭載溫度梯度功能

測量范圍（理論值）

● 粒徑0.6nm～10μm

● 濃度范圍 0.00001～40％

● 溫度范圍0～90℃^*

實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續測量的多個樣品

可以改變每個樣品的條件進行測量

● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品

● 標準測量時間1分的高度測量

自動調整從濃厚系到稀薄系樣品的最佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量

● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)

沒有任何復雜的操作，簡單易懂的軟件

● 因為每個樣品槽都是獨立的，沒有接觸污染的風險。

● 搭載溫度梯度功能

測量范圍（理論值）

● 粒徑0.6nm～10μm

● 濃度范圍 0.00001～40％

● 溫度范圍0～90℃^*