產(chǎn)品資料
精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀
產(chǎn)品名稱: 精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀
產(chǎn)品型號: TN-A1
產(chǎn)品特點: 精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀納米七的光學(xué)結(jié)構(gòu)以光異質(zhì)干擾為測量原理，分析并測量從兩束之間的相位差獲得的電信號。安裝時無需使用防振臺或真空設(shè)備，可實現(xiàn)高分辨率0.1nm以下。幾
精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀 的詳細(xì)介紹
精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀
精密加工晶圓檢測納米表面粗糙度檢測儀
納米七的光學(xué)結(jié)構(gòu)以光異質(zhì)干擾為測量原理，分析并測量從兩束之間的相位差獲得的電信號。安裝時無需使用防振臺或真空設(shè)備，可實現(xiàn)高分辨率0.1nm以下。幾乎沒有消耗品，運營成本也很低。納米七的光學(xué)結(jié)構(gòu)以光異質(zhì)干擾為測量原理，分析并測量從兩束之間的相位差獲得的電信號。安裝時無需使用防振臺或真空設(shè)備，可實現(xiàn)高分辨率0.1nm以下。幾乎沒有消耗品，運營成本也很低。納米七的光學(xué)結(jié)構(gòu)以光異質(zhì)干擾為測量原理，分析并測量從兩束之間的相位差獲得的電信號。安裝時無需使用防振臺或真空設(shè)備，可實現(xiàn)高分辨率0.1nm以下。幾乎沒有消耗品，運營成本也很低。納米七的光學(xué)結(jié)構(gòu)以光異質(zhì)干擾為測量原理，分析并測量從兩束之間的相位差獲得的電信號。安裝時無需使用防振臺或真空設(shè)備，可實現(xiàn)高分辨率0.1nm
縮短測量時間——Ra數(shù)秒測量，提高成品率
低價格設(shè)定：維護(hù)保養(yǎng)也很容易，幾乎不需要消耗品。
無需防振臺，無需選擇安裝地點
非接觸測量——利用激光進(jìn)行非接觸測量
広範(fàn)囲計測??型試料でも多點?動計測可能
簡單操作?測量?保存結(jié)果?レポート出?まで全?動
高分辨率：采用光外差干涉法實現(xiàn)的0.1nm分辨率
以下。幾乎沒有消耗品，運營成本也很低。
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